杭州半导体晶圆测试探针卡公司

从结构上看，探针卡主要由PCB、探针以及功能部件等组成。根据不同的情况，还会有电子元件、补强板(Stiffener) 等需求。其中PCB是芯片测试需要的连接板，芯片测试需要的所有外围电路通常都在PCB上面实现。晶圆测试使用的探针卡属于定制器件，每一款产品都需要供应商根据芯片设计公司提供的输入信息进行定制化设计，不具备通用性，所以其出货量也不大。即便一款芯片在其生命周期内年出货量可以达到上百万片，探针卡的需求量通常每年也不会超过3个。

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探针卡使用注意事项。1、探针与针套必须采用同样品牌彼此配对。2、探针放入针套时必须采用专用型平口钳放入针套，防止针管变型使针管里的扭簧于壁厚力增大，磨擦进而扩大，则工作压力就增大，导致探针寿命减短和对自己所测试商品毁坏。3、探针的针管顶部于针套顶端一定要保证竖直（90°）针管低入针套，从而减少在工作上探针的探针行程安排防止太大，影响探针寿命和测试实际效果。4、探针在放入测试架前要保持探针整洁没有其他脏物和污垢，以免引起在测试环节中头顶部变黑，阻拦探针的正常运转，影响测试实际效果。

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悬臂探针卡必须相对较高的技术实力和精确的实际操作，因为它的探针非常容易弯折或断裂。而垂直探针卡则较容易应用，因为它的探针头一般很硬，可以承受比较大的能量。与此同时，垂直探针卡一般具备更高速度和稳定性，所以在规模性评估和快速测试中较悬臂探针卡更有吸引力。悬臂探针卡和垂直探针卡都具有分别优缺点和适用场景。选择什么样的三合一混合信号检测工具应当根据实际的测试任务及要求来确定。

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探针卡被描述为测试仪的“手”。如果我们以这种方式考虑探针卡，则探针将充当其“手指”。探针是探针卡的一部分，实际上与集成电路接触。探针是直的，细的，针状的金属片，一端向下逐渐变细。探头通常由钨（W）和R钨（ReW）制成，尽管也使用铍铜（BeCu）和钯（Pd）等材料。直探头由四个基本参数定义 材料，探头长度（L），探头直径（D）和锥度（T）。