合肥半导体探针卡生产厂家

探针卡又称晶元探针卡，目前晶圆测试厂广泛用于晶圆测试的探针卡为悬臂探针卡及垂直探针卡。探针卡主要由PCB、探针、ring组成，根据不同需求，还会有电子元件、stittenerokx等的需求，是一种用于晶圆测试中被测试芯片和测试机之间的关键接口。广泛应用于内存、逻辑、消费、驱动、通讯IC等科技产品的晶圆测试。包括芯片封装前对芯片的电学性能进行的初步测试，在晶圆进行测试时，测试机台通过探针卡接触晶圆，并传送测试讯号以获取晶圆的电气讯号。

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在如今的行业上边晶圆探针卡的类型愈来愈多，大家晶圆探针卡生产厂家为了能使我们厂家生产这一款产品在上面有着自己的一席部位，在制造这一款产品时采用的都是雄厚的技术力量，但是每个生产流水线上都有专门的人员在严格严格把关，这样一来能够成功保证大家厂家生产的每一款产品的品质都符合我国规定标准那样就是我们生产厂家为什么能在这个市场竞争这般激烈的竞争上边有着自己的一席部位。

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探针卡”是一种测试插口，根据联接测试机及芯片传输信号，对芯片主要参数开展测试。探针卡将探针与芯片里的焊垫接触，引出来芯片信号，相互配合附近测试仪器设备与软件控制做到自动化技术隧道检测的效果。伴随着晶圆科技的不断提高，探针卡的类型不断创新。主要分epoxyring水平式探针卡；塑料薄膜式水平式探针卡；垂直式探针卡；桥接模式适用预制构件；SOI方式探针卡。现阶段晶圆测试厂广泛运用于晶圆测试的探针卡为悬壁及竖直探针卡2种情况。

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探针卡使用较普及化，先把探针按一定视角，长度弯折后，在使用环氧值固定不动，针位较平稳。主要特点：1、多种多样探针规格，多元化探针材料；2、摆针方式灵便，单面，双层针都可；3、工程造价便宜，可拆换单条探针。探针卡未来发展趋势及单晶硅片新科技定制的不断创新令人欢呼雀跃，这代表着新科技的不断发展。键合焊区的破坏与共面性相关，共面能力差可能导致探针卡的过多深层次更为严重，也会产生更大的力并且在元器件键合焊区部位导致更大的刮痕。共面性由两个部分确定：扭簧探针的天然共面性及探针卡和客户系统相关性。

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探针卡使用注意事项。1、探针与针套必须采用同样品牌彼此配对。2、探针放入针套时必须采用专用型平口钳放入针套，防止针管变型使针管里的扭簧于壁厚力增大，磨擦进而扩大，则工作压力就增大，导致探针使用寿命减短和对自己所测试商品毁坏。3、探针的针管顶部于针套顶端一定要保证竖直（90°）针管低入针套，从而减少在工作上探针的探针行程安排防止太大，危害探针使用寿命和测试实际效果。4、探针在放入测试架前要保持探针整洁没有其他脏物和污垢，以免引起在测试环节中头顶部变黑，阻拦探针的正常运转，影响测试实际效果。5、探针测试频次达5万次数时，使用（NSF用心）探针专用型清洁液。