探针卡的设计参数介绍

今天，小编为大家带来探针卡的设计参数，对此感兴趣的小伙伴，抓紧时间来了解一下吧！

探针卡结构参数

针位：探针在焊垫里的x，y部位

水准：探针卡上全部探针Z方位较大水准差

接触电阻：探针表面焊垫间的接触电阻

泄露电流：2个或多个数据信号中间所产生的漏电电流

针径主要参数：针径，针长，视角，样子

悬壁探针卡优势

悬壁探针卡应用较普及化，先把探针按一定视角，长短弯折后，再换环氧树脂胶固定不动，针位较平稳。主要特点：

多种多样探针规格，多元化探针材料

摆针方式灵便，单面，双层针都可

工程造价便宜，可拆换单条探针

用以大电流测试

悬壁探针卡的重要结构参数

针位：+/-0.25mil

水准：+/-0.25mil

针压：2-3g/mil+/-20%

泄露电流：10nA/5V

接触电阻：3/20mA

垂直探针卡的优势

垂直探针卡能够带来更高能力以及效率，主要特点：

多种多样针头规格

相对高度平行面解决，适宜Multi-Dut

新科技探针原材料，高温试验

高频探测能力

垂直探针卡的探针种类

垂直探针种类繁多，分成Cobra、Vi-probe、Apollo、MEMS等几种技术性。流行探针，探针卡经销商有MicroProbe、FEINMETALL、SVProbe、Technoprobe。

垂直探针卡的重要结构参数

探针针径种类、针位、水准、针压、针长、泄露电流、接触电阻等。

按垂直探针种类区划重要结构参数：

结果

探针卡未来发展趋势及单晶硅片新科技定制的不断创新令人欢呼雀跃，这代表了新科技的不断发展，但是我们应见到探针卡仍然遭遇许多考验，例如探针成本费不断增长，检修拆换探针高科研人员的塑造，根据合理控制测试机器设备线上清理探针的次数及各类主要参数来提升探针卡使用期限。

总体来说，单晶硅片探针卡的高速发展可以说挑战和机遇共存，必须高科研人员不断进步，紧跟全球尖端科技的脚步。